GaN-basierte e-Beam-Technologie revolutioniert Halbleiterinspektion
TOKIO / LONDON (IT BOLTWISE) – Eine neue GaN-basierte e-Beam-Technologie, entwickelt von einem Startup der Nagoya Universität, wird von Kioxia auf ihre Effizienz bei der Halbleiterinspektion getestet. Diese Technologie verspricht, die Erkennung von Defekten in der Produktion erheblich zu verbessern und könnte Kioxia einen Wettbewerbsvorteil verschaffen. Die Entwicklung der GaN-basierten e-Beam-Inspektionstechnologie durch das Startup Photo […]
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